Linseis LSR系统可对块体及薄膜热电材料进行表征，LSR-1测量系统能在-160°C至200°C的温度范围内同时测量塞贝克系数和电阻。


LSR-1的基本版本（室温高达200°C）可与各种选项相结合，以扩大应用范围。例如，低温选项允许LN2冷却至-160°C以及淬火冷却至80 K（仅电阻率）的全自动测量。一个可选的高温探针级允许在600°C以下进行电阻率测量。通过照明选项，可以在限定的光影响下，使用LSR-1上的3波长LED光源进行热电测量。


LSR-1系统允许根据众所周知的Van der Pauw（电阻率）以及静态直流和斜率塞贝克系数测量技术对金属和半导体样品进行表征。


紧凑的桌面设置允许全自动和软件控制的操作。全面的基于Windows的软件提供了一个易于使用的用户界面，包括用于设置测量配置文件的向导、测量数据可靠性的反馈以及集成的测量数据评估和存储。真空密封测量室与一系列气体计量系统相结合，可确保涵盖所有应用领域。