Linseis致力于为全球热分析仪器的客户提供产品支持和技术服务。

 林赛斯作为一家专业的热分析仪器厂家,不只是研发、制造仪器,我们也与热分析相关用户紧密合作,关注材料热物性分析的前沿发展。

 凭借对热分析特定应用领域的专业知识,Linseis 技术顾问与科学家和实验室研究人员展开合作。我们评估、开发和提供从样品前处理到最终报告的工作流程,无论您是过渡至新系统、改善现有系统还是运行现有的解决方案都适用。我们可协助仪器选购、仪器更新换代,以满足不断变化的实验室需求。我们在热分析领域提供专业的技术服务支持与应用合作。



DIL–膨胀测量
测定-150°C和1750°C之间的热膨胀系数和热膨胀系数
根据ASTM D 696、E 228、E 831、E 1363、E 1545、E 1824、DIN 53752


DSC-差示扫描量热法
在-150°C至1550°C范围内测量焓、相变和比热容(Cp)
根据ASTM C 351、D 3417、D 3895、D 4565、E 793、E 794、DIN 51004、51007、53765、65467、DIN EN 728、ISO 10837、11357、11409


TGA-热重分析
RT至1550°C之间质量变化/分解残留物的测量
根据ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358


STA–同步热分析
同时测量TG和DSC测定RT和1550℃之间的质量变化和量热效应
根据ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358


LFA–激光闪射分析
在室温和1500℃之间测量热扩散率、热导率和比热容
根据ASTM E 1461、DIN 30905、DIN EN 821


THB–瞬态热桥测量
RT至150°C之间导热系数的测量

HFM–热流法导热仪
测量5°C至80°C之间绝缘子和绝缘材料的热导率和热阻(u值)
根据ASTM C518、JIS A 1412、ISO 8301、DIN 12667


LSR–塞贝克、电阻和ZT测量
RT 至1100°C之间测量塞贝克系数、电导率/电阻和优值系数(ZT)
根据JIS R 1650-1


HCS–霍尔效应、载流子浓度和塞贝克测量
电导率/电阻率、载流子密度、载流子迁移率、霍尔常数、塞贝克系数的测量
在-196°C和700°C之间
根据ASTM F76-08


RITA-淬火膨胀法
钢材、CCT、CTT、TTT的相图和相变测量;
在RT 至1600°C之间快速加热和冷却时测量热膨胀系数(CTE)
根据ASTM A1033-04


TFA-薄膜分析仪
在-160℃~+280℃之间测量薄膜和涂层的热导率、比热、电阻率、塞贝克系数和霍尔系数


TF-LFA薄膜激光导热仪
室温至500℃薄膜和涂层的热扩散率和热导率的测量
 


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