林赛斯推出的新型 LSR-1（LSR L32）设备，可轻松便捷地表征热电材料（如传感器或珀尔帖元件中使用的材料），适用于固体材料和薄膜形态。基础版本的新型 LSR-1（LSR L32）可在 -160 °C 至 200 °C 的温度范围内，全自动同步测量塞贝克系数和电阻率。该基础版本可配备气体检测器，还能通过气体定量供给系统、样品照明装置和低温选项进行功能扩展。
新型 LSR-1（LSR L32）系统支持根据著名的范德堡法（Van der Pauw method）表征金属和半导体样品的电阻率，并通过梯度扫描和线性回归法测量塞贝克系数。
新型 LSR-1（LSR L32）可测量的薄膜材料应用广泛，涵盖半导体技术、液晶显示器（LCD）生产，以及太阳能组件、传感器制造、医疗技术等纳米技术的诸多领域。
